تشخیص خرابی در پردازشگرهای دیجیتالی

باپیشرفت تکنولوژی و ساختن قطعات و تراشه های پیچیده تر و بزرگتر، این امکان بوجود آمده است تامدارهای پیچیده دیجیتالی با تعداد قطعات کمتری ساخته شوند. اما از نظر تست و نگهداری دستگاه، با پیچیده شدن هرقطعه و عدم دسترسی به نقاط داخلی آن، با مشکلات بیشتر و جدی تری روبرو می شویم . امروزه استفاده از تراشه های پیچیده کنترلر و یا پردازشگر و همچنین بردهای مبتنی بر ریزپردازنده روزبروز در حال افزایش است و این سئوال را پیش می آورد که چگونه می توان اینگونه مدارها را تست نمود ؟ دررساله حاضر مسئله تست مدارهای پیچیده دیجیتالی مورد توجه قرار گرفته است و پس از بیان مقدمات لازم و پرداختن به روش های معمول تست در فصول اول تا چهارم، مسئله تست مدارهای پیچیده دیجیتالی در فصل پنجم مورد بررسی قرار گرفته است . مشکلات استفاده از روش های معمول تست برای اینگونه مدارهای پیچیده بیان شده و راههای مختلف ممکن بمنظور تست یک مدار پیچیده دیجیتالی بررسی شده و با یکدیگر مقایسه گردیده است . باتوجه به نتایج بدست آمده در بررسی های فوق، در فصل ششم یک طرح پیشنهادی بمنظور تست نمونه ای از اینگونه مدارهای پیچیده یعنی پردازشگر دیجیتالی یک رادار ارائه شده است .